| 品牌 | 昊量光電 | 系統(tǒng)構(gòu)成 | hiXAS硬X射線系統(tǒng)；proXAS軟X射線系統(tǒng) |
|---|---|---|---|
| 測(cè)試模式 | XANES/NEXAFS近邊；EXAFS擴(kuò)展邊 | hiXAS能量范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)4.5～25 keV，支持更高能區(qū)定制 |
| hiXAS分辨率 | XANES 4000；EXAFS 1800 | hiXAS測(cè)試時(shí)間 | EXAFS快至3分鐘；XANES快至8分鐘 |
| EXAFS通帶 | 1000 eV | proXAS能量范圍 | 200～1200 eV |
| proXAS分辨率 | 1900；譜峰位置偏差＜0.06% | proXAS光源 | 無(wú)碎片激光等離子體XUV光源；功率穩(wěn)定性±1.5% |
| proXAS占地 | 1.5 m×1.0 m |
昊量/星朗一體化XAS系統(tǒng)—軟X射線到硬X射線
昊量/星朗一體化XAS系統(tǒng)—軟X射線到硬X射線適用于相關(guān)科研和工業(yè)應(yīng)用場(chǎng)景，具備穩(wěn)定可靠、操作便捷和便于系統(tǒng)集成等特點(diǎn)。
軟 X 探表面，硬 X 析體相，一站式實(shí)驗(yàn)室 XAS 系統(tǒng)
昊量光電的XANES/EXAFS系統(tǒng)是實(shí)驗(yàn)室級(jí) X 射線吸收譜，核心定位是將同步輻射級(jí)別的 XAS 檢測(cè)能力落地到常規(guī)實(shí)驗(yàn)室，讓科研人員無(wú)需申請(qǐng)、等待同步輻射機(jī)時(shí)，即可在室內(nèi)完成 X 射線吸收近邊結(jié)構(gòu)（XANES/NEXAFS）與擴(kuò)展邊精細(xì)結(jié)構(gòu)（EXAFS）測(cè)試。
吸收邊附近的NEXAFS區(qū)域表現(xiàn)出X射線吸收系數(shù)的zui大變化，通常以強(qiáng)烈而狹窄的共振峰為主，這些共振峰源于芯電子向非束縛能級(jí)的躍遷。NEXAFS對(duì)局域原子態(tài)（如氧化態(tài)）敏感。
EXAFS結(jié)構(gòu)則源于發(fā)射出的光電子的波動(dòng)特性，這些光電子被周圍原子散射，通過(guò)相長(zhǎng)干涉和相消干涉形成振蕩，進(jìn)而可用于推斷鍵長(zhǎng)及鄰近原子的相關(guān)信息。
產(chǎn)品矩陣覆蓋軟 X 射線 - 硬 X 射線全場(chǎng)景，包含兩款功能互補(bǔ)的一體化系統(tǒng)：面向硬 X 射線、支持全功能 XAS 測(cè)試的hiXAS，以及面向軟 X 射線 / 極紫外波段、專注表面 NEXAFS 分析的proXAS，廣泛服務(wù)于催化、能源、材料、地質(zhì)、生物等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究與工業(yè)研發(fā)。
hiXAS 一體化硬 X 射線 XAS 系統(tǒng)
hiXAS 是實(shí)驗(yàn)室級(jí)交鑰匙 X 射線吸收譜系統(tǒng)，基于 X 射線管光源 + von Hamos 構(gòu)型 HAPG 晶體光譜儀，同時(shí)支持XANES（近邊）與EXAFS（擴(kuò)展邊）兩種測(cè)試模式，主打硬 X 射線波段的體相結(jié)構(gòu)與價(jià)態(tài)分析。
hiXAS的核心優(yōu)勢(shì)
同步輻射級(jí)數(shù)據(jù)品質(zhì)：XANES 分辨率 4000，EXAFS 分辨率 1800，全能量范圍穩(wěn)定，譜圖與同步輻射高度吻合
非掃描快速原位測(cè)試：寬譜一次性采集，EXAFS 快至 3 分鐘、XANES 快至 8 分鐘；支持?jǐn)?shù)天級(jí)原位 / 工況長(zhǎng)時(shí)動(dòng)態(tài)追蹤
高靈敏寬通帶：低至 wt% 級(jí)元素檢出限，EXAFS 通帶達(dá) 1000eV，單次測(cè)試覆蓋近邊 + 擴(kuò)展邊
能區(qū)廣可定制：標(biāo)準(zhǔn) 4.5-25keV，覆蓋 3d 過(guò)渡金屬至 Zr、Pt、U 等中重元素，支持更高能區(qū)定制
一體化易拓展：自帶控制與分析軟件，雙樣品端口，支持批量測(cè)試與加熱、電化學(xué)池等原位環(huán)境搭建
hiXAS元素范圍
hiXAS典型應(yīng)用
催化領(lǐng)域：電解水 OER 催化劑、合成氣催化、單原子 / 高熵催化劑的原位過(guò)程表征
能源存儲(chǔ)：電池電極材料充放電過(guò)程的價(jià)態(tài)演化與鍵長(zhǎng)變化追蹤
環(huán)境與核材料：放射性元素價(jià)態(tài)分析、核電材料腐蝕產(chǎn)物表征
材料研究：合金、MOF、化合物的短程有序結(jié)構(gòu)、化學(xué)形態(tài)解析
proXAS 桌面型軟 X 射線 NEXAFS 系統(tǒng)
proXAS 是global一款商用集成式桌面 NEXAFS 系統(tǒng)，基于高可靠激光等離子體 XUV 光源，專注軟 X 射線 / 極紫外波段（200-1200eV）的近邊吸收譜測(cè)試，主打高表面靈敏度與輕元素分析能力。
proXAS核心優(yōu)勢(shì)
桌面級(jí)方案：打破軟 X 射線 NEXAFS 對(duì)同步輻射的依賴，常規(guī)實(shí)驗(yàn)室即可開(kāi)展測(cè)試
超高表面靈敏度：軟 X 射線天然表面敏感，精密解析樣品表層分子軌道、氧化態(tài)、配位數(shù)與分子取向
同步輻射級(jí)精度：分辨率達(dá) 1900，譜峰位置偏差 < 0.06%，多色光快速采集
穩(wěn)定緊湊易部署：無(wú)碎片激光等離子體光源，功率穩(wěn)定性 ±1.5%；占地僅 1.5m×1.0m，適配標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)臺(tái)
低檢出限：輕元素zui低檢測(cè)濃度可達(dá) 0.2wt%，適配低含量樣品分析
proXAS元素范圍
proXAS典型應(yīng)用
表面科學(xué)：聚合物薄膜、二維材料、改性涂層的表面化學(xué)態(tài)與電子結(jié)構(gòu)表征
有機(jī)與生物材料：高分子、脂質(zhì)膜、腐殖酸的 C/N/O 輕元素結(jié)構(gòu)分析
地球化學(xué)：氧化物礦物的氧邊化學(xué)態(tài)、地質(zhì)樣品元素形態(tài)研究
輕功能材料：碳基材料、鈣鈦礦等體系的氧化態(tài)與電子結(jié)構(gòu)解析
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