| 品牌 | 昊量光電 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 測量模式 | 直流 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 綜合 | 光譜儀類型 | 高分辨率光譜儀;高靈敏度光譜儀;科研級熱電制冷光譜儀;制冷型近紅外光譜儀 |
| 光譜范圍 | 200-1100nm;制冷型近紅外為900-1700nm | 狹縫 | 標配50μm(其它狹縫100/200μm可選) |
| 信噪比 | 600:1;500:1;12000:1;3000:1(高增益)/4700:1(低增益) | 探測器 | 濱松-S11639線陣2048像素CMOS;S10420-2048像素背照式面陣CCD;濱松-S11820制冷型背照式面陣2048像素CCD;濱松-G11620制冷型線陣256像素InGaAs |
| 制冷溫度 | 相對環境溫度-25℃(部分型號不制冷) | 積分時間 | 0.5ms-65s;7ms-60s;5ms-24s;100us-10s |
| 源表 | 吉時利2400,電流0-1A,電壓0-200V,測量分辨率1pA/100nV,電源20W | 光纖 | UV光纖,600微米芯徑,NA:0.22,長度1米,工程硅膠封裝 |
| 積分球 | 3.3寸4開口積分球,光譜范圍200-2500nm,PTFE高反射率>98% |
昊量/星朗電致發光量子效率測量系統(EQEEL)
電致發光量子效率測量系統
原位測量,精密高效——電致發光量子效率光譜系統,賦能OLED/QLED/PeLED研發
電致發光量子效率光譜系統可專門針對發光器件的光電特性進行有效測量。系統搭配包括光譜儀、帶輻射校準光源積分球、電流源表、探針臺、光纖及治具等。光譜儀具有信噪比高、雜散光低,動態范圍大等特性,適合不同波段和強度的激發光和發射光測量,可確保測量結果得準確性。同時,系統配有的專用測試軟件,操作邏輯簡單,測試過程迅速。
電致發光量子效率光譜系統能夠以高檢測精度對電致發光器件進行縱深測量,得到全面的電致發光效率參數(外量子效率等)以及相關的電學、輻射度學、光度學、色度學等參數;同時該系統集成了穩定性測試模塊,可以對器件的老化過程進行測試,且同時得到器件老化過程的全面信息,即涵蓋了上述發光效率、電學、輻射度學、光度學、色度學等全面參數(通常的老化測試儀,僅對電流、電壓和相對亮度進行測試)。在生物熒光標記、太陽能電池、光電催化、化學分析、食品檢測及活體成像等領域具有巨大的潛在應用價值。

昊量/星朗電致發光量子效率測量系統(EQEEL)主要參數:
光譜儀類型 | 高分辨率光譜儀 | 高靈敏度光譜儀 | 科研級熱電制冷光譜儀 | 制冷型近紅外光譜儀 |
光譜范圍 | 200-1100nm | 200-1100nm | 200-1100nm | 900-1700nm |
狹縫 | 標配 50μm(其它狹縫 100/200μm 可選) | |||
信噪比 | 600:1 | 500:1 | 12000:1 | 3000:1(高增益)4700:1(低增益) |
探測器 | 濱松-S11639 線陣 2048 像素 cmos | S10420-2048 像素背照式面陣 ccd | 濱松-S11820 制冷型背照式面陣 2048 像素 CCD | 濱松-G11620 制冷型線陣 256 像素 InGaAs |
制冷溫度 | / | / | 相對環境溫度-25℃ | 相對環境溫度-25℃ |
積分時間 | 0.5ms-65s | 7ms-60s | 5ms-24s | 100us-10s |
源表 | 吉時利 2400,通道:1,電流:0-1A,電壓:0-200V,測量分辨率:1pA/100nV,電源:20W | |||
光纖 | UV 光纖,600 微米芯徑,NA:0.22,長度1米,工程硅膠封裝 | |||
積分球 | 3.3寸4開口積分球,光譜范圍:200-2500nm,PTFE 高反射率>98% | |||
輻射標定鹵燈光源 | 溯源 NIM 輻射標定光源,光譜范圍 350-1100nm,帶輻照分布溯源標定數據,電壓 6V;功率 5W;接口線為鳳凰端子 2pin 轉香蕉插頭 2pin | |||
主要標準附件 | 積分球固定板,電致發光樣品治具(可定制) | |||
ISPecEQE 量子效率光譜軟件 | 軟件功能: 測量電致發光量子效率;顯示吸收電子數和發射光子數;選取激發峰和發射峰;顯示能量密度;電流表掃描模式;進行單次測量和連續測量;電致特性曲線:電壓-電流密度、電流密度-輻射亮度、電流密度-輻射照度、電流密度-量子效率、電流密度-能量轉換效率(PCE);2400 源表實現軟件控制;顯示原始光譜和輻射照度光譜;顯示 CIE 顏色坐標;顯示熒光顏色三刺激值;顯示色品坐標;顯示熒光 RGB 色彩;顯示熒光色溫;數據保存。 | |||
該產品技術特點:
原位測量:可放至手套箱內,實現原位測量
結構穩定:設備無需頻繁校準
專業軟件:功能豐富,操作簡單,測試迅速
光譜儀:系統采用制冷型CCD信噪比高、靈敏度高、測量精度高
該產品基本工作原理:
電致發光(Electroluminescent,簡稱EL),是通過加在兩電極的電壓產生電場,被電場激發的電子碰擊發光中心,而引致電子在能級間的躍遷、變化、復合導致發光的一種物理現象。由于電致發光產品具有發光效率高、器件壽命長、響應速度快、視角特性好、色彩度強、成本價格低、可彎曲等特點,在顯示器和照明領域有非常廣闊的應用前景。
決定電致發光產品性能是否優良的,就是電致發光器件了。我們常說到的OLED、QLED都屬于這類器件。它們主要包括五層結構:陰極、電子傳遞層、發光層、空穴傳遞層和陽極。其中發光層的材料稱為電致發光材料,OLED器件的發光層為有機分子材料,QLED器件的發光層為量子點材料。

電致發光器件的EQE(外量子效率)值是決定器件封裝以后光效的重要參數之一,也是真正決定電致發光器件是否能夠商業化的重要參數之一。無論對于顯示器還是照明,從電能轉化為光能的發光效率都非常重要,其主要反映了輸入功率的利用率。發光效率越高,器件的熱損耗越小,能量利用率越高。在電致發光器件的研究中,對應的參數則為外量子效率(EQE,External quantum efficiency)。
現在普遍的EQE測量方法有兩種,其中一種是通過亮度計測量法線方向的亮度,通過標準朗伯體分布理論計算得到器件的EQE值。該方法有嚴重的缺點:實際中器件的朗伯體分布并非標準的余弦分布,會有部分分布不均的現象,此時通過理論計算的結果會非常不準確。

另一種EQE的測量方法是通過積分球配件,將器件的整體光通量收集,并通過計算得到器件的EQE。該方法又有兩種測量方案,一種是將器件至于積分球球壁上,僅測量器件的前向通量,稱為2π法;一種是將器件置于積分球內部,測量器件的整體通量,稱為4π法。

該產品典型案例:
新型電致發光器件研發:包括OLED、QLED、PeLED、Micro-LED等。
發光材料本征特性研究:側重于材料的光致發光量子產率(PLQY)。
發光物理機制探索:效率衰減(efficiency droop)、溫度依賴行為等基礎科學問題。
LED/OLED顯示與照明制造:用于產線中芯片、面板、熒光粉等產品的快速篩選與批次穩定性監控。
生物醫學研究:利用PLQY評估熒光探針、生物標記物等。
新能源光伏:通過EQE評估太陽能電池(如鈣鈦礦、染料敏化電池)的光電轉換能力。




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