| 品牌 | 昊量光電 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
| 所屬類(lèi)別 | 材料分析設(shè)備/光電測(cè)試系統(tǒng) | 測(cè)試對(duì)象 | 導(dǎo)電薄膜/薄金屬層 |
| 測(cè)量方式 | 非接觸式測(cè)量 | 應(yīng)用方向 | 方塊電阻/方阻測(cè)量 |
| 產(chǎn)品特點(diǎn) | 高速/高精度/低備樣需求 | 數(shù)據(jù)功能 | 保存和導(dǎo)出測(cè)量數(shù)據(jù) |
昊量/星朗手持式金屬厚度光電測(cè)試儀
昊量/星朗手持式金屬厚度光電測(cè)試儀是昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層方塊電阻測(cè)量的非接觸式薄膜方塊電阻測(cè)試儀EddyCus TF Series，這款非接觸式薄膜方塊電阻方阻測(cè)試儀可以非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量，對(duì)導(dǎo)電薄膜和金屬方塊電阻精確測(cè)量，表征已被隱藏和封裝的導(dǎo)電層，并把測(cè)量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出。 可用于方塊電阻，方阻測(cè)量。非接觸式方塊電阻方阻測(cè)量，可替代四探針傳統(tǒng)測(cè)量。
該產(chǎn)品的應(yīng)用：
? 電子工業(yè)
? 光伏產(chǎn)品中的金屬離子
? 電池和燃料電池中的電極
? 電路板(PCB)
? 鏡子中的反光涂層
? 醫(yī)療設(shè)備
? 包裝材料中的阻隔薄膜
? 屏蔽應(yīng)用
? 加熱應(yīng)用
? 其他的
該產(chǎn)品的材料：
? 金屬薄膜
? 金屬網(wǎng)
? 金屬基底
?合金薄膜
? 合金基底
該產(chǎn)品設(shè)備的控制與軟件：
便攜式
非破壞性接觸測(cè)量
實(shí)時(shí)且易于使用
數(shù)據(jù)記錄功能
準(zhǔn)確可靠
觸摸屏
可定制校準(zhǔn)
通過(guò)藍(lán)牙在PC端進(jìn)行數(shù)據(jù)聚合
應(yīng)用方向
該設(shè)備適用于電子工業(yè)、光伏產(chǎn)品中的金屬離子檢測(cè)、電池和燃料電池電極、電路板PCB、鏡面反光涂層、醫(yī)療設(shè)備、包裝材料阻隔薄膜、屏蔽材料和加熱應(yīng)用等場(chǎng)景。
適用材料
可面向金屬薄膜、金屬網(wǎng)、金屬基底、合金薄膜和合金基底等材料進(jìn)行非破壞性檢測(cè)，適合需要快速評(píng)估導(dǎo)電薄膜或薄金屬層狀態(tài)的實(shí)驗(yàn)與生產(chǎn)環(huán)境。
測(cè)試與數(shù)據(jù)管理
設(shè)備支持對(duì)導(dǎo)電薄膜和薄金屬層進(jìn)行快速篩查，可幫助用戶(hù)在材料研發(fā)、工藝驗(yàn)證和生產(chǎn)抽檢中獲得穩(wěn)定數(shù)據(jù)。測(cè)試過(guò)程減少樣品準(zhǔn)備要求，適合需要保留樣品完整性的檢測(cè)流程。配合數(shù)據(jù)記錄與導(dǎo)出功能，可用于過(guò)程追蹤、質(zhì)量控制和后續(xù)數(shù)據(jù)分析。
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