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Product catalog

激光測量設備

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Oosight成像系統(tǒng)——紡錘體觀察儀
Oosight成像系統(tǒng)——紡錘體觀察儀：Oosight成像系統(tǒng)采用核心的LC-PolScope™技術，能夠提供一種特別的能力，可以在不使用外源性染料或標簽的情況下，提供紡軸裝置和三層透明帶的高對比度定量圖像。

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在線方塊電阻測試儀
EddyCus TF inline在線方塊電阻測試儀可以測量薄層的性能，如金屬層厚度，薄層電阻，輻射系數(shù)，殘余水分或在各種基材上的非接觸克重。相關基材有玻璃、箔、紙、晶圓片、塑料或陶瓷。通過常駐測量或觸發(fā)事件進行監(jiān)測，以在快速移動的涂層過程中獲得等距離的結(jié)果。檢測解決方案可以在大氣或真空條件下實施。基于電渦流技術的檢測過程高采樣率更高。可以使用客戶的軟件為過程控制系統(tǒng)提供測量結(jié)果。

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非接觸式薄層電阻測試儀
非接觸式薄層電阻測試儀：昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層方塊電阻測量的非接觸式方阻測量儀EddyCus TF Series，這款非接觸式方塊電阻測量儀可以非接觸式實時測量，對導電薄膜和金屬方塊電阻精確測量，表征已被隱藏和封裝的導電層，并把測量數(shù)據(jù)保存和導出。

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聚焦光束分析儀 - CinSpot AUT-1204系列
聚焦光束分析儀 - CinSpot AUT-1204系列：聚焦光束分析儀 CinSpot 系列產(chǎn)品來自德國激光光束分析儀生產(chǎn)廠家 Cinogy 公司，主要是針對聚焦后的激光光束的測量和分析的測量設備，覆蓋 UV~NIR 波段，可測量的焦點光斑尺寸為Min. 3um。主要用于測量焦點光斑尺寸、焦點位置、M^2、瑞利長度、激光功率等等。

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光纖法布里-珀luo干涉儀
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設計。FFP 的設計簡潔優(yōu)雅的關鍵在于其無透鏡全光纖結(jié)構(gòu)。沒有準直光學器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術的缺陷，包括未對準、環(huán)境敏感性和外來模式。FFP 波器遵循 Airy 函數(shù)。工程師可以將其設計到 OEM 系統(tǒng)中，因為他們知道它將提供非常接近理論數(shù)學模型的結(jié)果。

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800nm二極管泵浦鈦寶石飛秒激光器
800nm二極管泵浦鈦寶石飛秒激光器：鈦寶石激光介質(zhì)由于其具有極寬增益譜與發(fā)射譜的特性，在超短脈沖產(chǎn)生和波長調(diào)諧等方面具有極大的優(yōu)勢。長期以來鈦寶石激光器使用價格昂貴的 532 nm 全固態(tài)激光器作為泵浦源，在一定程度上限制了其推廣和應用。高亮度、高功率藍-綠光激光二極管的問世，為低成本鈦寶石振蕩器的實現(xiàn)提供了新的可能。LD 具有結(jié)構(gòu)緊湊、穩(wěn)定性高、價格低廉等優(yōu)勢。

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角分辨散射儀
昊量光電新推出用于準確測量材料散射特征的角分辨散射儀，為高質(zhì)量光學產(chǎn)品的生產(chǎn)提供有力保障。這種測量儀能夠測量二維或三維雙向散射分布函數(shù)(BSDF)，包括雙向反射分布函數(shù)BRDF, 雙向透射分布函數(shù)BTDF,透射，反射，散射等。

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600-1600nm單波長DFB激光器
Laser-1200是一系列在廣泛的波長和功率范圍可高度定制的600-1600nm單波長DFB激光器，波長和功率可選，波長可選范圍600-1600nm, zui大輸出功率15dBm。

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850nm激光器
1102是是一款連續(xù)波(CW)激光器，提供高功率850nm激光器、多模光纖耦合輸出，可提供長期穩(wěn)定輸出功率運行

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C、L波段可調(diào)諧激光器1527.605-1611.787nm
Laser-1000是一款連續(xù)波、單頻、C、L波段可調(diào)諧激激光器，可調(diào)范圍覆蓋整個C、L波段，功率可達16.5dbm，線寬可達100 kHz，調(diào)諧分辨率0.01 pm，C、L波段可調(diào)諧激光器是一款用途廣泛、成本效益高的通用儀器。C、L波段可調(diào)諧激光器1527.605-1611.787nm

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CinCam Pico系列超小尺寸光束分析儀
超小尺寸光束分析儀-CinCam Pico系列由于其高的分辨率和小的像素尺寸，CinCam確保了在對連續(xù)和脈沖激光光束測量分析時的高準確度。其即插即用的設計保證了設備的易兼容性和操作的簡易型。此外Cincam光束分析儀通用的C/F-Mount接口設計，使外加衰減片、擴束鏡、紫外轉(zhuǎn)換裝置、紅外轉(zhuǎn)換裝置更為方便。

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手持式膜厚測量儀
手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC（彎曲表面）基于MProbe 20 平臺可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度，MProbe 20 具有專為單層和雙層應用優(yōu)化的數(shù)據(jù)分析算法。

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